文献类型:专著 浏览次数:161
  • 题名:DEM插值算法适应性理论与方法
  • 责任者:张锦明著
  • 出版社电子工业出版社
  • 出版年:2020.05
  • ISBN:978-7-121-37617-7
  • 定价:129.00
  • 载体形态项:318页 25cm
  • 个人责任者:张锦明著
  • 学科主题:地理信息系统
  • 中图法分类号:P208
  • 提要文摘附注:DEM精度研究是DEM研究体系的重要组成部分,原始数据精度、插值算法、地貌类型、采样数据分布特征和尺度是影响DEM精度的主要因素之一。插值算法作为其中的直接因素,地貌类型、采样数据分布特征和尺度等因素通过插值算法影响DEM精度。因此,从影响DEM插值精度的不同因素出发,研究DEM插值算法的适应性问题,对降低DEM插值的不确定性、提高DEM插值精度具有十分重要的意义。本书围绕DEM插值参数、地貌类型适应性、采样数据分布特征适应性、尺度适应性等问题展开了DEM插值算法适应性的研究和实践。本书可以作为地图学与地理信息工程(系统)、环境科学与工程、地理学、地质学、作战环境学等地球科学领域的研究生或本科生的辅助教材,也可以作为测绘科学与技术、遥感科学、地理信息科学等相关领域研究人员的科研参考书。
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