文献类型:专著 浏览次数:3
  • 题名:半导体器件电离辐射总剂量效应
  • 责任者:陈伟[等]编著
  • 出版社科学出版社
  • 出版年:2022.09
  • ISBN:978-7-03-070039-1
  • 定价:135.00
  • 载体形态项:226页 24cm
  • 个人责任者:陈伟著
  • 学科主题:半导体器件
  • 中图法分类号:TN303
  • 提要文摘附注:本书主要介绍空间辐射环境与效应、体硅CMOS器件电离辐射总剂量效应、双极器件电离辐射总剂量效应、SOI器件电离辐射总剂量效应、电离辐射总剂量效应模拟试验方法、MOS器件电离辐射总剂量效应预估、纳米器件电离辐射总剂量效应与可靠性、系统级电离辐射总剂量效应等内容。
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