| 000 |
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| 005 |
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20241009100805.0 |
| 010 |
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■a978-7-121-35115-0■dCNY99.00 |
| 100 |
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■a20201004e20232019em y0chiy50 ea |
| 101 |
1_ |
■achi■cjpn |
| 102 |
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■aCN■b110000 |
| 105 |
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| 106 |
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■ar |
| 200 |
1_ |
■a现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应■dTerrestrial radiation effects in ULS+...... |
| 210 |
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■a北京■c电子工业出版社■d2019.01■h2023.11 |
| 215 |
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■a14, 210页■d26cm |
| 225 |
2_ |
■a国防电子信息技术丛书■9guo fang dian zi xin xi ji shu cong shu |
| 305 |
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■a本书简体中文字版专有翻译出版权由John Wiley & Sons,Ltd.授予电子工业出版社 |
| 314 |
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■aEshiH.Ibe，博士，曾任日本日立公司首席研究员，1975年获得日本京都大学物理学士学位，1985年获得大阪大学+...... |
| 320 |
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■a有书目(第188-196页) |
| 330 |
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■a本书主要介绍广泛存在的各种辐射，及其对电子设备和系统的影响，涵盖了造成ULSI器件出错和失效的多种辐射，包括电子、α+...... |
| 461 |
_0 |
■12001 ■a国防电子信息技术丛书 |
| 510 |
1_ |
■aTerrestrial radiation effects in ULSI devices and electron+...... |
| 606 |
0_ |
■a集成电路■x全球环境■x辐射效应 |
| 606 |
0_ |
■a电子系统■x全球环境■x辐射效应 |
| 690 |
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■aTN4■v5 |
| 690 |
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■aTN103■v5 |
| 701 |
_0 |
■a伊部英治■c(日)■4著■9yi bu ying zhi |
| 702 |
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■a毕津顺■4译■9bi jin shun |
| 702 |
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■a马瑶■4译■9ma yao |
| 702 |
_0 |
■a王天琦■4译■9wang tian qi |
| 801 |
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■aCN■b南昌职业大学图书馆■c20241009 |
| 905 |
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■a南昌职业大学图书馆■dTN4/25 |
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