文献类型:专著 浏览次数:3
  • 题名:片上系统测试设计与优化
  • 责任者:(瑞典)埃里克·拉森著
  • 出版社科学出版社
  • 出版年:2024.01
  • ISBN:978-7-03-076918-3
  • 定价:88.00
  • 载体形态项:10,314页 26cm
  • 个人责任者:拉森著、孙仁杰译
  • 学科主题:集成电路
  • 中图法分类号:TN407 TN402
  • 提要文摘附注:本书讨论了片上系统(SoC)测试的相关问题,包括建模以及片上系统测试解决方案的设计和优化。全书分为三部分,在概述经典测试方法的基础上,介绍测试大型、模块化和异构SoC面临的挑战和困难,并介绍了拉森和他的团队为克服上述困难所做的研究工作。
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