文献类型:专著 浏览次数:8
  • 题名:集成电路封装与测试:微课版
  • 责任者:韩振花,冯泽虎主编
  • 出版社人民邮电出版社
  • 出版年:2024.03
  • ISBN:978-7-115-62964-7
  • 定价:56.00
  • 载体形态项:191页 26cm
  • 个人责任者:韩振花主编、冯泽虎主编
  • 学科主题:集成电路
  • 中图法分类号:TN405 TN407
  • 提要文摘附注:本书较为全面地介绍集成电路封装与测试技术知识。本书共8个项目,包括认识集成电路封装与测试、封装工艺流程、气密性封装与非气密性封装、典型封装技术、芯片测试工艺、搭建集成电路测试平台、74HC138芯片测试和LM358芯片测试,每个项目均设置了1+X技能训练任务,帮助读者巩固所学的内容。
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